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低溫試驗
低溫試驗目的：
可程式高低溫濕度試驗箱測試目的用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的環(huán)境適應性能力。通過該試驗，可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境下可能出現(xiàn)的脆化、裂紋、變形、功能失效等問題，從而為產(chǎn)品的改進和優(yōu)化提供依據(jù)。
低溫試驗能引發(fā)產(chǎn)品哪些故障
材料的硬化和脆化；
在對溫度瞬變的響應中，不同材料產(chǎn)生不同程度的收縮，以及不同零部件的膨脹率不同，引起零部件相互咬死；
由于粘度增加,潤滑油的潤滑作用和流動性降低；
變壓器和機電部件的性能改變；
破裂與龜裂、脆裂、沖擊強度改變和強度降低；
可程式高低溫濕度試驗箱核心參數(shù)
低溫溫度點、溫度穩(wěn)定時間、溫度保持時間、溫度變化速率。
低溫試驗項目及條件
低溫啟動試驗
受試產(chǎn)品在溫度開始穩(wěn)定后對受試產(chǎn)品進行通電工作并運行正常。
示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下穩(wěn)定2小時后，上電工作2小時，試驗箱恢復至常溫+25℃保持1小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。
低溫工作試驗
受試產(chǎn)品在整個低溫試驗期間連續(xù)通電工作并運行正常。
示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下，連續(xù)通電工作運行4小時,試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。
低溫貯存試驗
受試產(chǎn)品在試驗期間不通電，試驗結(jié)束后通電測試功能。
示例：受試產(chǎn)品在-30℃條件下，斷電貯存24小時，試驗期間的溫度變化速率為1℃/min。低溫試驗檢測結(jié)果判定
試驗期間或試驗后，受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變，受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。
低溫試驗基礎(chǔ)標準
GB/T 2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》。
具體可程式高低溫濕度試驗箱的參數(shù)功能可以咨詢唯克檢測設(shè)備！
